CPU真的会老化？具体表现是什么？

汽车之家问答系统：对于CPU老化问题，其实是个电子学里的复杂现象。它涉及四种主要老化现象：NBTI、HCI、EM和TDDB。其中，EM，即电子迁移，是由于电流驱动下的原子移动导致导线结构受损，可能导致断裂或短路，无法逆转。预防EM主要是通过优化设计和工艺，减少缺陷，但面对大规模的电路，完全避免是困难的。

其它老化现象如NBTI和HCI，与MOSFET结构有关，它们影响芯片速度，特别是NBTI会导致阈值电压升高，降低导通电流，从而影响整体性能。温度、电压和超频都会加剧这些效应。比如，高温会增加热电子，使断键概率增大；高电压会加快氢原子游离，加速老化；超频则可能逼近芯片的性能极限，加剧老化影响。

对于TDDB，它涉及到二氧化硅层的断裂，形成导电通路，如果技术如HKMG能够改善电介质，这个问题可能会得到缓解。了解这些原理，可以帮助我们更好地理解汽车电子设备为何会随着时间而性能下降。

要深入了解这一主题，可以参考普度大学M.Alam教授的在线课程《纳米电子晶体管可靠性物理学》，这是一份宝贵的资源，详细讲解了NBTI的历史和研究，对于对电子学有深入兴趣的人来说，非常值得一看。感谢Alam教授分享的宝贵教育资源。